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淺析在線粒度儀相比傳統(tǒng)離線粒度測試方法的優(yōu)勢
發(fā)布時間:2023-07-27

在線粒度儀作為一種粒度分析工具,能夠?qū)崟r監(jiān)測和優(yōu)化顆粒尺寸分布,廣泛應(yīng)用于各個工業(yè)領(lǐng)域。它的高精度、高靈敏度和高穩(wěn)定性使得粒度分析變得更準(zhǔn)確和可靠。它通過光學(xué)或聲學(xué)原理,將物料中的顆粒進(jìn)行非接觸式檢測,并根據(jù)檢測結(jié)果生成粒度分布曲線。通常具有高精度、高靈敏度和高穩(wěn)定性的特點(diǎn),可以...

  • 發(fā)布時間:2024-12-13

    激光噴霧粒度儀是一種高精度儀器,專門用于測量微米級顆粒的粒度分布?;诩す馍⑸湓砉ぷ?。當(dāng)一束激光照射到噴霧中的顆粒時,顆粒會對激光產(chǎn)生散射。散射光的強(qiáng)度和角度與顆粒的大小、形狀、折射率等因素有關(guān)。通過測量不同角度上的散射光強(qiáng)度,可以得到顆粒的粒度分布信息。激光噴霧粒度儀通常由激光器、探測器、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等部分組成。激光器發(fā)出激光,經(jīng)過聚焦后照射到正在噴霧的顆粒上。產(chǎn)生的散射光被探測器接收,并轉(zhuǎn)換為電信號。數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)則對電信號進(jìn)行處理和分析,最終得出顆粒的粒度分布、平均粒徑...

  • 發(fā)布時間:2024-12-11

    X射線衍射儀是一種重要的分析儀器,其基本原理是利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來分析材料的晶體結(jié)構(gòu)。當(dāng)一束單色X射線入射到晶體時,由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級,故由不同原子散射的X射線相互干涉,在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射。衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān),每種晶體所產(chǎn)生的衍射花樣都反映出該晶體內(nèi)部的原子分配規(guī)律。X射線衍射儀其操作要領(lǐng):一、準(zhǔn)備工作檢查設(shè)備:確保X射線衍射儀處于良好工作狀態(tài),各部件連...

  • 發(fā)布時間:2024-12-09

    納米顆粒跟蹤分析儀是一種先進(jìn)的物理性能測試儀器,主要用于材料科學(xué)和生物學(xué)領(lǐng)域,能夠精準(zhǔn)測量納米顆粒的濃度、粒徑分布以及動力學(xué)過程。其利用光散射和布朗運(yùn)動的特性,通過激光光束穿過樣本室并沿光束散射光的路徑穿過懸浮液中的顆粒,實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化。攝像頭捕捉布朗運(yùn)動下移動顆粒的視頻文件,軟件單獨(dú)追蹤多個顆粒并利用愛因斯坦方程式計算顆粒的流體力學(xué)直徑。同時,該技術(shù)還可以提供顆粒的濃度信息和粒徑分布數(shù)據(jù)。為了確保其長期穩(wěn)定運(yùn)行和測量結(jié)果的準(zhǔn)確性,維護(hù)保養(yǎng)工作至關(guān)重要。以下是納米顆粒跟蹤分...

  • 發(fā)布時間:2024-12-06

    x射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。其基本原理是利用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出次級X射線,即X射線熒光。當(dāng)這些高能射線與樣品中的原子相互作用時,會將原子內(nèi)層的電子擊出,導(dǎo)致外層電子躍遷到內(nèi)層。當(dāng)外層電子返回基態(tài)時,會釋放出特征X射線,這些特征X射線的能量或波長與元素的種類有關(guān)。通過檢測這些特征X射線,可以確定樣品中存在的元素種類及其含量。為了確保操作的準(zhǔn)確性和安全性,以下是x射線熒光光譜儀詳細(xì)的操作事項:1、準(zhǔn)備工作檢查電源和冷卻系統(tǒng):確保X射線...

  • 發(fā)布時間:2024-12-04

    粉末衍射儀,特別是粉末X射線衍射儀,是一種基于X射線衍射原理的重要分析儀器,在材料科學(xué)、化學(xué)、物理等多個領(lǐng)域發(fā)揮著舉足輕重的作用。其工作原理是利用具有一定發(fā)散度的特征X光束照射多晶平板樣品。多晶平板樣品中一部分被照射的小晶粒的同名衍射晶面及其等同晶面所產(chǎn)生的衍射線將在適當(dāng)?shù)姆轿痪劢苟纬裳苌鋸?qiáng)峰。這些被聚焦的衍射線所對應(yīng)的同名晶面或等同晶面與光源和接收狹縫處在同一聚焦圓周上。在測角儀掃描過程中,聚焦圓的半徑會不斷改變,但在樣品一定深度范圍內(nèi)總是存在與聚焦圓吻合的弧面。這些滿足...

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