前文我們對馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer的Zeta電位測試報(bào)告中的的參數(shù)逐一做了解釋，那么電位測試結(jié)果質(zhì)量要如何判別呢？Zeta電位的數(shù)據(jù)質(zhì)量主要取決于相位圖的質(zhì)量，可以從相位圖，質(zhì)量因子以及衰減器來做出判斷。01丨相位圖如下圖，測量產(chǎn)生的相位差隨時(shí)間的交變斜率，F(xiàn)FR快速電場轉(zhuǎn)換，相位隨電場轉(zhuǎn)換快且清晰；SFR慢速電場轉(zhuǎn)換，斜率大，縱坐標(biāo)絕對值大，即表示相位圖質(zhì)量較好。圖1：質(zhì)量較好的相位圖而當(dāng)測量產(chǎn)生的相位差隨時(shí)間的交變斜率不清晰，斜率低，縱坐標(biāo)絕對值小時(shí)，...

激光粒度分布儀是一種集光、機(jī)、電、計(jì)算機(jī)為一體的高科技產(chǎn)品，工作原理基于光散射原理。當(dāng)激光照射到顆粒上時(shí)，會產(chǎn)生衍射和散射現(xiàn)象。不同粒徑的顆粒會產(chǎn)生不同的散射光分布，通過檢測這些散射光的分布，可以反推出顆粒的粒徑分布。具體來說，激光粒度分布儀通過收集和分析散射光的信號，來確定顆粒的大小分布。通常由激光器、樣品池、光學(xué)系統(tǒng)、探測器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等部分組成。激光器發(fā)出的激光經(jīng)過光學(xué)系統(tǒng)聚焦后，照射到樣品池中的顆粒上。顆粒散射的光被光學(xué)系統(tǒng)收集，并聚焦到探測器上。探測器將光信號轉(zhuǎn)換...

X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)及應(yīng)力，進(jìn)行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是：當(dāng)一束X射線照射到晶體物質(zhì)上時(shí)，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射。衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)，不同的晶體物質(zhì)具有自己獨(dú)t的衍射圖樣。通過分析這些衍射圖樣，可以獲得物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)信息。X射線衍射儀其基本結(jié)構(gòu)特...

納米顆粒跟蹤分析儀是一種先進(jìn)的物理性能測試儀器，主要用于材料科學(xué)和生物學(xué)領(lǐng)域，能夠精準(zhǔn)測量納米顆粒的濃度、粒徑分布以及動力學(xué)過程。其利用光散射和布朗運(yùn)動的特性，通過激光光束穿過樣本室并沿光束散射光的路徑穿過懸浮液中的顆粒，實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化。攝像頭捕捉布朗運(yùn)動下移動顆粒的視頻文件，軟件單獨(dú)追蹤多個(gè)顆粒并利用愛因斯坦方程式計(jì)算顆粒的流體力學(xué)直徑。同時(shí)，該技術(shù)還可以提供顆粒的濃度信息和粒徑分布數(shù)據(jù)。納米顆粒跟蹤分析儀的應(yīng)用范圍廣泛，以下是對其應(yīng)用領(lǐng)域的具體介紹：1、生物醫(yī)學(xué)研究：在...

激光粒度分布儀是一種集光、機(jī)、電、計(jì)算機(jī)為一體的高科技產(chǎn)品，工作原理基于光散射原理。當(dāng)激光照射到顆粒上時(shí)，會產(chǎn)生衍射和散射現(xiàn)象。不同粒徑的顆粒會產(chǎn)生不同的散射光分布，通過檢測這些散射光的分布，可以反推出顆粒的粒徑分布。具體來說，激光粒度分布儀通過收集和分析散射光的信號，來確定顆粒的大小分布。通常由激光器、樣品池、光學(xué)系統(tǒng)、探測器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等部分組成。激光器發(fā)出的激光經(jīng)過光學(xué)系統(tǒng)聚焦后，照射到樣品池中的顆粒上。顆粒散射的光被光學(xué)系統(tǒng)收集，并聚焦到探測器上。探測器將光信號轉(zhuǎn)換...