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淺析在線粒度儀相比傳統(tǒng)離線粒度測(cè)試方法的優(yōu)勢(shì)
發(fā)布時(shí)間:2023-07-27

在線粒度儀作為一種粒度分析工具,能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)和優(yōu)化顆粒尺寸分布,廣泛應(yīng)用于各個(gè)工業(yè)領(lǐng)域。它的高精度、高靈敏度和高穩(wěn)定性使得粒度分析變得更準(zhǔn)確和可靠。它通過(guò)光學(xué)或聲學(xué)原理,將物料中的顆粒進(jìn)行非接觸式檢測(cè),并根據(jù)檢測(cè)結(jié)果生成粒度分布曲線。通常具有高精度、高靈敏度和高穩(wěn)定性的特點(diǎn),可以...

  • 發(fā)布時(shí)間:2025-01-15

    粉末衍射儀,特別是粉末X射線衍射儀,是一種基于X射線衍射原理的重要分析儀器,在材料科學(xué)、化學(xué)、物理等多個(gè)領(lǐng)域發(fā)揮著舉足輕重的作用。其工作原理是利用具有一定發(fā)散度的特征X光束照射多晶平板樣品。多晶平板樣品中一部分被照射的小晶粒的同名衍射晶面及其等同晶面所產(chǎn)生的衍射線將在適當(dāng)?shù)姆轿痪劢苟纬裳苌鋸?qiáng)峰。這些被聚焦的衍射線所對(duì)應(yīng)的同名晶面或等同晶面與光源和接收狹縫處在同一聚焦圓周上。在測(cè)角儀掃描過(guò)程中,聚焦圓的半徑會(huì)不斷改變,但在樣品一定深度范圍內(nèi)總是存在與聚焦圓吻合的弧面。這些滿(mǎn)足...

  • 發(fā)布時(shí)間:2025-01-09

    新年已過(guò),寒假還遠(yuǎn)嗎?各位使用X射線熒光儀的小伙伴們是否了解您這款精密的實(shí)驗(yàn)室儀器在假期中如何正確養(yǎng)護(hù)呢?《MP工具箱》欄目將陸續(xù)推出馬爾文帕納科主要產(chǎn)品的假期操作技巧和注意事項(xiàng)。本期將向您介紹馬爾文帕納科波長(zhǎng)色散X熒光儀的假期維護(hù)攻略,讓您安心度過(guò)寒假,讓儀器以平穩(wěn)的狀態(tài)迎接您假期后的回歸!波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀是一款精密的光學(xué)儀器,其內(nèi)部的X射線管、高壓發(fā)生器、測(cè)角儀、自動(dòng)進(jìn)樣器等部件都價(jià)值不菲,還配套有水冷、穩(wěn)壓電源、UPS、空壓機(jī)、氣瓶等多款外設(shè)。假期前需要正確處理...

  • 發(fā)布時(shí)間:2025-01-08

    激光粒度分布儀是一種集光、機(jī)、電、計(jì)算機(jī)為一體的高科技產(chǎn)品,工作原理基于光散射原理。當(dāng)激光照射到顆粒上時(shí),會(huì)產(chǎn)生衍射和散射現(xiàn)象。不同粒徑的顆粒會(huì)產(chǎn)生不同的散射光分布,通過(guò)檢測(cè)這些散射光的分布,可以反推出顆粒的粒徑分布。具體來(lái)說(shuō),激光粒度分布儀通過(guò)收集和分析散射光的信號(hào),來(lái)確定顆粒的大小分布。通常由激光器、樣品池、光學(xué)系統(tǒng)、探測(cè)器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等部分組成。激光器發(fā)出的激光經(jīng)過(guò)光學(xué)系統(tǒng)聚焦后,照射到樣品池中的顆粒上。顆粒散射的光被光學(xué)系統(tǒng)收集,并聚焦到探測(cè)器上。探測(cè)器將光信號(hào)轉(zhuǎn)換...

  • 發(fā)布時(shí)間:2025-01-06

    納米粒度電位儀是一種用于化學(xué)領(lǐng)域的分析儀器,主要用于測(cè)量納米級(jí)和亞微米級(jí)固體顆粒、乳液的粒度分布以及Zeta電位。通過(guò)動(dòng)態(tài)光散射(DLS)等技術(shù),該儀器能夠準(zhǔn)確、快速地分析樣品的粒徑大小和分布,同時(shí)測(cè)定顆粒表面的Zeta電位,從而了解顆粒的穩(wěn)定性和表面電荷情況。納米粒度電位儀利用動(dòng)態(tài)光散射原理,通過(guò)測(cè)量散射光的強(qiáng)度和波動(dòng)來(lái)推算顆粒的粒徑大小和分布。當(dāng)激光束照射到顆粒樣品上時(shí),顆粒會(huì)散射光,散射光的強(qiáng)度與顆粒的大小和數(shù)量有關(guān)。通過(guò)分析散射光的波動(dòng)情況,可以得到顆粒的粒徑分布信息...

  • 發(fā)布時(shí)間:2025-01-03

    x射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法。其基本原理是利用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出次級(jí)X射線,即X射線熒光。當(dāng)這些高能射線與樣品中的原子相互作用時(shí),會(huì)將原子內(nèi)層的電子擊出,導(dǎo)致外層電子躍遷到內(nèi)層。當(dāng)外層電子返回基態(tài)時(shí),會(huì)釋放出特征X射線,這些特征X射線的能量或波長(zhǎng)與元素的種類(lèi)有關(guān)。通過(guò)檢測(cè)這些特征X射線,可以確定樣品中存在的元素種類(lèi)及其含量。x射線熒光光譜儀的具體特性:1、非破壞性:在分析過(guò)程中不會(huì)對(duì)樣品造成破壞,這對(duì)于珍貴或不復(fù)制的樣品尤為重要。2...

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