本文摘要本文記錄了Masterziser3000激光粒度儀和Morphologi-4全自動粒度粒形分析儀對負(fù)極材料進(jìn)行粒度粒形測試的過程，并提供了解決石墨樣品分散漂浮和細(xì)粉不穩(wěn)定等典型問題的解決辦法。此外，還根據(jù)樣品粒形測試的結(jié)果對電池負(fù)極材料球形度對電池質(zhì)量的影響進(jìn)行了闡述。全文分為兩篇，此為下篇。實驗背景上篇介紹了Mastersizer3000激光粒度儀對石墨負(fù)極材料粒度測量，以及針對其測量中的典型應(yīng)用問題所提供的解決方案。那么，天然石墨和人造石墨有什么區(qū)別，以及二者區(qū)別...

納米顆粒跟蹤分析儀是一種能夠?qū)崟r監(jiān)測納米顆粒動態(tài)行為的儀器。該技術(shù)被廣泛應(yīng)用于納米材料研究、生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域。原理是利用激光束照射樣品，觀察樣品中納米顆粒的布朗運動，并通過圖像處理技術(shù)對顆粒的位置進(jìn)行跟蹤。通過采集大量顆粒的位置信息，可以得到顆粒的大小、濃度、形狀等信息。使用納米顆粒跟蹤分析儀的操作流程通常包括樣品制備、儀器預(yù)熱、樣品注入、數(shù)據(jù)采集等步驟。樣品制備的要求較高，需要避免樣品中存在大顆粒和異物干擾。在數(shù)據(jù)采集后，可通過分析軟件對數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，如計算平均直徑...

納米粒度電位儀是一種用于測量納米顆粒表面電位的儀器。納米顆粒的表面電位是指顆粒表面帶電的程度，是影響顆粒穩(wěn)定性和相互作用的重要因素。納米粒度電位儀通過測量顆粒在電場中的運動速度和方向，來計算顆粒表面電位的大小和符號，從而了解顆粒的穩(wěn)定性和相互作用機(jī)制。基于電動力學(xué)原理進(jìn)行測量。當(dāng)納米顆粒懸浮在液體中時，其表面帶有電荷。通過測量納米顆粒在電場中的運動速度來推斷其尺寸。較大的顆粒由于慣性效應(yīng)而具有較快的運動速度，而較小的顆粒由于受到溶劑分子的碰撞而具有較慢的運動速度。通過分析納米...

隨著科學(xué)技術(shù)的不斷進(jìn)步，噴霧粒度儀也在不斷發(fā)展和改進(jìn)。未來的發(fā)展趨勢包括更高的測量精度和速度、更廣泛的應(yīng)用范圍、更便捷的操作和數(shù)據(jù)分析等方面。同時，噴霧粒度儀與其他儀器的集成和智能化也是發(fā)展的方向，以滿足不同領(lǐng)域中對噴霧粒度測量的需求。噴霧粒度儀是一種用于測量和分析液體噴霧顆粒大小分布的儀器。通?；诠鈱W(xué)散射、激光衍射或圖像分析等技術(shù)。它通過將噴霧樣品引入儀器，利用光學(xué)或圖像傳感器捕捉顆粒的散射或衍射信號，并通過數(shù)據(jù)處理得到顆粒的大小分布信息。噴霧粒度儀的結(jié)構(gòu)特性主要包括以下...

X射線衍射儀是采用衍射光子探測器和測角儀來記錄衍射線位置及強(qiáng)度的分析儀器，并通過系列技術(shù)的處理能準(zhǔn)確地測量衍射強(qiáng)度和線性。X射線衍射儀主要應(yīng)用于樣品的物相定性或定量分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、材料的結(jié)構(gòu)**應(yīng)力的測定、晶粒大小測定、結(jié)晶度測定等。物相分析是X射線衍射在金屬中用得多的方面,分定性分析和定量分析。前者把對材料測得的點陣平面間距及衍射強(qiáng)度與標(biāo)準(zhǔn)物相的衍射數(shù)據(jù)相比較,確定材料中存在的物相;后者則根據(jù)衍射花樣的強(qiáng)度,確定材料中各相的含量。在研究性能和各相含量的關(guān)系和檢查材料的成...